X射线荧光光谱法测定釉料中主次痕量组份

摘要：

采用熔融玻璃法,用Axios型X射线荧光光谱仪(帕纳科公司)测定釉料中Fe2O3、Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、MnO、NiO、CuO、ZnO、ZrO2和PbO等组分含量.使用理论α系数和经验系数法校正基体效应,分析结果与化学法基本相符,除Na2O、MgO、CaO外,其余组分12次测定的相对标准偏差均小于10%.

关键词：釉料、X射线荧光光谱仪、熔融法、理论α系数、基体效应校正

所属期刊栏目：42

分类号：TQ17

在线出版日期：2006-12-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：43-44