微分进化算法在头部电阻抗成像中的应用

摘要：

电阻抗成像(EIT)技术是一种功能成像技术,它向未知目标注入(安全)电流,通过测得目标边界的电位来估计它内部的阻抗分布情况.电阻抗成像是一个严重病态的非线性逆问题.本研究应用微分进化算法进行电阻抗成像,并将其用于二维真实头模型的阻抗重建中.仿真结果显示,作为一种简单、鲁棒的算法,微分进化算法在EIT成像中具有优越的性能.

关键词：电阻抗成像、微分进化算法、二维真实头模型

所属期刊栏目：24

分类号：R318;TM154.4(医用一般科学)

资助基金：广东省博士启动基金20040080008;河北省自然科学基金E2004000054;E2005000047

在线出版日期：2006-03-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：672-675,695