10.3969/j.issn.1002-0152.2009.04.007
反复惊厥阈下痫样放电致海马齿状回颗粒细胞树突改变
目的 探讨反复惊厥阈下痫样放电(subconvulsive epileptiform discharges,SED)对海马突触发生的影响.方法 选择6~7周龄雄性SD大鼠64只,成组设计随机分为惊厥阈下痫样放电组(SED组,n=15)、海马快速电点燃组(hippocampal kindling,HK组,n=17)、海马电极埋植对照组(electrode control,EC组,n=16)及正常对照组(normal control,NC,n=16),采用高尔基染色法观察电刺激后1、7、30 d大鼠海马齿状回颗粒细胞树突总长度、树突棘密度、树突分支点数和树突野最大伸展距离等改变.结果 电刺激后1 d,HK、SED组大鼠齿状回颗粒细胞树突总长度、树突棘密度、树突分支点数较NC、EC组均有显著减少(P<0.01),而树突野最大伸展距离有减少(P<0.05),电刺激后30 d,HK、SED组大鼠海马齿状回颗粒细胞树突总长度较NC、EC组增多(P<0.05),而树突棘密度、树突分支点数和树突野最大伸展距离均有显著增多(P<0.01).结论 反复惊厥阈下痫样放电引发了实验大鼠齿状同颗粒细胞树突总长度增加、树突棘密度增高、树突分支点数增多和树突野最大伸展距离增大等突触发生改变,在癫痫性情感行为障碍与认知功能受损中可能有重要意义.
反复惊厥阈下痫样放电、海马、树突、突触发生
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R742.1(神经病学与精神病学)
四川省卫生厅科研课题070389
2009-06-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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