脑磁图联合弥散张量成像在常规磁共振成像阴性的额叶局灶性皮质发育不良术前评估中的应用价值

摘要：

目的 探讨常规磁共振成像阴性的额叶局灶性皮质发育不良(FCD)的诊断和定位方法,为手术治疗提供依据.方法 选择2008年3月-2009年6月河北省人民医院收治的常规磁共振成像表现阴性的额叶癫痫并经手术治疗后病理诊断为FCD的患者28例,术前联合应用脑磁图(MEG)、弥散张量成像(DTI)检查诊断、定位.结果 MEG显示发作间期棘波分布于右侧额叶13例,左侧额叶10例,额顶叶3例,双侧额叶2例.棘渡灶与中央前回运动区相隔15例,相邻11例,部分相融2例.DTI检查结果显示,感兴趣区(ROI)的表观弥散系数值(ADC)较对侧升高[(I.55±0.14) mm2/s与(0.87±0.05) mm2/s,t=2.734,P＜0.05],部分各向异性(FA)值较对侧降低[(0.21±0.03)与(0.30±0.10),t=2.384,P＜0.05].28例癫痫患者行手术治疗,病理回报FCD Ⅰ A型6例、ⅠB型9例、ⅠC型8例、ⅡA型5例.患者术后随访12～26个月,平均17.3个月,Engel'sⅠa级7例、Ⅰb级10例、Ⅱ级8例、Ⅲ级3例.结论 联合应用MEG和DTI技术可以准确诊断、定位常规磁共振成像阴性的额叶FCD,为精确切除致痫灶、提高额叶癫痫控制率提供保障.

关键词：脑磁图描记术、弥散张量成像、磁共振成像、皮质发育畸形、癫痫、诊断

所属期刊栏目：18

分类号：R742(神经病学与精神病学)

在线出版日期：2015-04-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：729-732