高光谱成像结合模式识别无损检测猕猴桃成熟度

摘要：

为实现"贵长"猕猴桃成熟度的快速无损检测,提出高光谱成像结合模式识别建立识别模型的检测方法.首先利用可见/近红外(390～1 030 nm)高光谱成像系统采集不同成熟阶段猕猴桃样本的高光谱图像,并获取整个样本区域的光谱反射率.然后对比3种光谱预处理方法:二阶导数、标准正态变换以及多元散射校正对原始光谱的预处理效果.最后分析偏最小二乘判别分析(PLS-DA)和简化的K最近邻(SKNN)模式识别方法对猕猴桃成熟度的识别性能.结果表明:相对于标准正态变换和多元散射校正两种光谱预处理方法,二阶导数预处理方法对原始光谱的预处理效果相对较好.另外,PLS-DA识别模型对猕猴桃成熟度的识别性能要优于SKNN识别模型,其正确识别率达到100％.表明采用高光谱成像技术结合模式识别方法判别"贵长"猕猴桃成熟度是可行的.

关键词："贵长"猕猴桃、成熟度、高光谱成像、模式识别、无损检测

所属期刊栏目：43

分类号：O657.3;S663.4(分析化学)

资助基金：贵州省科技计划项目;贵阳市科技局贵阳学院专项

在线出版日期：2022-08-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：90-95