短暂性脑缺血脑深部髓质静脉分布的SWI分析

摘要：

目的:应用磁敏感加权成像(SWI)技术研究短暂性脑缺血(TIA)脑内深部髓质静脉(DMV)的分布.方法:双盲回顾性分析118例TIA患者及32例正常志愿者的临床及脑部MR影像学资料.两位放射科医生共同判定图像质量、DMV对称性(对称定义为相同区域均有DMV显示,数量差＜5根且扩张程度相近),分别判定DMV分型并对数据进行一致性检验(Kappa).将侧脑室旁DMV和同侧脑浅层静脉(SCV)管径对比分为3型,Ⅰ型:无DMVs;Ⅱ型:DMVs＜SCVs;Ⅲ型:DMVs=SCVs.在对照组中,13例志愿者进行两型MR扫描(Siemens Verio 3.0T和GE Discover 750 3.0T)比较研究.结果:DMV分型数据一致性分析Kappa值为0.855.Man-Whitney秩和检验分析TIA组与对照组DMV分型有差异,P=0.000,P＜0.05;TIA组间DMV分型无差异,P=0.633,P＞0.05.对照组与TIA组DMV对称性四格表Fisher确切概率法P=0.004,P＜0.05.两型MR扫描仪图像对判定DMV分型无差异(x2=0.5,P＞0.05).结论:TIA脑内DMV判定有很好一致性,DMV可不对称分布,其管径多小于和接近脑浅层静脉.

关键词：脑缺血发作、短暂性、磁共振成像

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分类号：R743.31;R445.2(神经病学与精神病学)

资助基金：辽宁省自然科学基金计划项目201602768

在线出版日期：2017-01-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：761-764,783