铜胁迫下玉米叶片光谱MRSVD特征与污染预测模型

摘要：

基于不同铜离子(Cu2+)胁迫梯度下玉米盆栽实验,依据所测玉米叶片光谱数据和叶片中Cu2+含量,通过多分辨奇异值分解(MRSVD)提取光谱弱信息,建立玉米叶片Cu2+污染定性分析及含量预测模型.利用MRSVD对350～1 300 nm波段内玉米叶片光谱进行多层分解,依据模极大值理论和定义的敏感因子确定反映Cu2+污染信息的最佳分量,在此基础上构建奇异系数(SC)、奇异指数(SI)、奇异面积(SA)和奇异谱熵(SSE)等奇异特征参数分析光谱奇异性,并采用逐步回归分析法建立奇异特征参数与玉米叶片Cu2+含量之间的定量关系模型.结果表明:第9层MRSVD细节分量能较好地提取Cu2+污染信息,奇异性主要集中在480～850 nm波段内,奇异特征参数与玉米叶片Cu2+含量有较好的相关性,其中SI和SSE与玉米叶片Cu2+含量存在较强的定量关系,其决定系数(R2)为0.842 5,均方根误差为0.826 0,模型精度优于常规方法.奇异特征参数能够较好地诊断并定量分析玉米叶片铜污染水平,可为作物重金属污染监测提供参考.

关键词：铜污染、盆栽玉米、光谱分析、多分辨奇异值分解、奇异特征参数

所属期刊栏目：48

分类号：TP75(遥感技术)

资助基金：国家自然科学基金项目41271436;煤炭资源与安全开采国家重点实验室2017年开放基金项目SKLCRSM17KFA09

在线出版日期：2019-08-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：928-934