大气单颗粒物中无机元素的二次离子质谱研究

摘要：

采用飞行时间式二次离子质谱对大气单颗粒物(20μm以下)进行了探索性研究,并用硅片、铜片、镀银铜片和镀金铜片作为分析基片进行了对比实验;对以镀金铜片基片得到的谱图进行了金属元素分析,并与相同样品总颗粒物的ICP-AES 分析结果进行了比较.结果表明:镀金铜片基片的分析效果最佳;ICP-AES检测出的金属元素除Cd外,在二次离子质谱图上均有体现.因此,单颗粒物含有总颗粒物的"指纹”信息.

关键词：SIMS、单颗粒物、无机元素

所属期刊栏目：30

分类号：O657.63(分析化学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：442-445