径移速度对SSD谱线轮廓及成像影响

摘要：

在考虑标准薄盘流体元径移速度的情况下,推导出Kerr黑洞附近吸积盘的观测谱线流量的一般计算式.利用光子追踪法,计算不同参数条件下标准薄吸积盘的谱线轮廓,通过比较考虑径移速度和忽略径移速度两种情况下吸积盘的谱线轮廓,得出在多数情况下,径移速度对谱线流量的影响是显著的,两种情况下吸积盘流量成像图形状基本不变.

关键词：标准薄盘、径移速度、Kerr度规、谱线流量

所属期刊栏目：39

分类号：P1(天文学)

在线出版日期：2010-03-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：1786-1793