基于伪光照和区域特征梯度结合的导电粒子快速检测方法

摘要：

在TFT-LCD导电粒子压痕检测过程中,由于检测对象面积小、数量多、分布不均等因素,传统的半导体检测方法漏检、误检较多,无法实现有效检测.为提高TFT-LCD导电粒子压痕的识别率和识别速度,提出一种基于图像梯度的TFT-LCD导电粒子快速检测方法.该方法针对导电粒子的阴阳面特征,提出了统计意义上的伪光照方向判定方法,解决目前光照模型不能适应导电粒子伪光照方向的判断,同时有助于后续梯度统一表述为阳面区域,然后提出了区域特征梯度的概念,有效避免导电粒子的常规梯度信息受噪声干扰严重的问题,并采用结合动态规划的K-means算法对区域特征梯度进行聚类计算,得出梯度阈值,完成对导电粒子压痕的检测与计数,算法识别率约为98.61％,漏检率为1.39％,误检率约为1.85％.此外,为了满足工业检测中对于亿级像素图像处理的实时性需求,采用基于CUDA平台的并行计算方法对算法进行了加速,核心算法部分加速约253倍,整体算法加速约8倍,代码运行时间＜2 s,满足工业检测的实时性需求.

关键词：导电粒子、图像处理、图像梯度、并行算法、聚类

所属期刊栏目：51

分类号：TP391;TP182;TN911.73

资助基金：国家自然科学基金;国家自然科学基金;科技助力经济重点专项资助项目

在线出版日期：2021-04-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：231-240