标准测试条件下晶硅电池输出参数的不确定度
以标准测试条件下晶硅电池输出参数为参考,研究了实际测试条件下,载片台与测试电池片之间热接触性质不同时,晶硅电池内部温度分布和输出参数的变化情况.研究表明,当测试的晶硅电池片与载片台之间形成良好的热接触时,相对标准测试条件,电池内部产生的温度漂移很小,测试电池输出参数VOC,JSC,FF和叩的不确定度分别为0.0037%,0.000196%,0.000845%和0.0044%;当测试的晶硅电池片与载片台之间未形成良好的热接触时,相对标准测试条件,电池内部产生的温度漂移最大可达9.5℃,测试电池输出参数VOC,JSC,FF和η的不确定度分别为0.1644%,0.0038%,0.0533%和0.2134%.
晶硅电池、输出参数、环境条件、界面传热系数、不确定度
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国家自然科学基金批准号,11304020,61773074
2020-04-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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