ZnO压敏电阻交流老化TSC特性

摘要：

氧化锌压敏电阻片的交流老化特性及机理一直以来广泛受到人们的关注.本文基于“十度倍半”法则开展了ZnO压敏电阻加速老化试验,并对老化各阶段的试样进行了功率损耗和热刺激电流(TSC)测试,测试结果显示,随着老化时间的增加,ZnO压敏电阻片的功率损耗增大、TSC陷阱电荷量增加,同时陷阱能级也有加深;此外,功率损耗增大与TSC陷阱电荷量增加有相同的趋势.初步分析表明,迁移的填隙锌离子影响了空间电荷的分布,导致肖特基势垒的降低,引起了陷阱能级的变化.

关键词：氧化锌压敏电阻、热刺激电流(TSC)、功率损耗、填隙锌离子、肖特基势垒

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资助基金：国家自然科学基金50577021,50877025;教育部博士点基金200800790004

在线出版日期：2014-03-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：241-246