8-mol%钇稳定氧化锆放电等离子烧结体的电学特性研究

摘要：

采用等离子烧结技术,在1350℃10min所烧结的8-mo1%钇稳氧化锆样品(SPS)与常规1450℃4h烧结样品(CS)相比,SPS样品致密度已达到99%.通过X射线衍射(XRD)对两种样品分析其结构均为立方体(Fm3m),根据XRD谱(111)峰算得SPS样品的晶粒大小D111为154 nm,CS样品的D111大于1 μm.用ZVIEW软件对不同测试温度下所得交流阻抗测试结果进行了拟合处理,研究结果表明:SPS样品的离子电导率不同于CS样品;在400～800℃温度范围内,放电等离子烧结样品的活化能为91kJ·mol-1,与常规烧结样品的96kJ·mol-1相一致,这说明SPS烧结体的导电机理与常规烧结体基本一致.

关键词：钇稳定氧化锆、放电等离子烧结、交流阻抗

所属期刊栏目：34

分类号：TG4(焊接、金属切割及金属粘接)

资助基金：国家"火炬计划"2001EB001131

在线出版日期：2004-10-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：979-987