可测性设计技术的回顾与发展综述

摘要：

介绍了可测性定义、起源和发展过程,简要分析了国内可测性技术的现况和存在问题.对可测性建模、度量、基本方法、相关国际标准、可测性设计平台和可测性技术发展趋势等几个核心问题进行了探讨.

关键词：测量与仪器、可测性设计、内嵌自测试、边界扫描

所属期刊栏目：3

分类号：TN45(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：总装预研重点基金51317040102;博士点基金20070614018

在线出版日期：2008-12-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：52-58