TFT-LCD表面缺陷检测中一维DFT方法中邻域r的自动选取

摘要：

在TFT-LCD平板表面缺陷检测中,为了自动获取一维 DFT 方法中的邻域r,首先将无缺陷的TFT-LCD平板表面图像的每一行经过预处理,再计算其灰度共生矩阵,然后提取灰度共生矩阵的均匀度,最后计算不同r 时的均匀度差值。最大差值所对应的r 就是最佳邻域。搭建了 TFT-LCD 平板检测实验系统,实验对不同长度的非整周期、整周期、非整周期补整的图像进行处理。从获取的r 可知,在相同环境下,非整周期补整后的r 和整周期的r 相同。将这一结果应用到实际缺陷检测中,系统可以准确地检测出缺陷。

关键词：薄膜晶体管-液晶显示器、缺陷检测、灰度共生矩阵、一维离散傅里叶变换、邻域r

所属期刊栏目：27

分类号：TP182;TN911.73(自动化基础理论)

资助基金：国家重大科学仪器设备开发专项资助项目2013YQ220749

在线出版日期：2016-12-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：2895-2901