纳米绝缘材料的STM检测机理及其应用研究

摘要：

分析了纳米绝缘材料薄层在适当的偏压电场下STM检测的机理,用自行研制的STM.IPC-205B型扫描隧道显微镜实现了对部分绝缘纳米材料微观形貌的检测,得到了理想的图像.拓展了STM检测加工技术的应用领域,进一步发挥了STM在材料结构和性能研究方面精度高、稳定性强等优势.

关键词：纳米、扫描隧道显微镜、原子力显微镜、微观形貌

所属期刊栏目：16

分类号：TH38(泵)

在线出版日期：2005-12-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：389-390