10.3321/j.issn:1004-132X.2005.z1.043
RF MEMS开关在开关瞬态时的电磁干扰
针对RF MEMS开关在开和关瞬态时的充电和放电的过程中的开关电容的变化、极板间电场的变化以及因此而产生的磁场进行了详尽的推导,沈明在开关的瞬态产生的变化电磁场将对信号产生一定程度的干扰.
MEMS开关、电容、电场强度、磁场强度
16
TM56(电器)
2005-12-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
129-131
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10.3321/j.issn:1004-132X.2005.z1.043
MEMS开关、电容、电场强度、磁场强度
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TM56(电器)
2005-12-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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