一种基于断层测量的反求工程

摘要：

断层测量技术能同时测量物体的表面和内腔尺寸,在反求工程中具有较好的应用前景.现有方法如CT和MRI的测量精度较低,且成本很高.针对上述问题,研究了一种基于层去图像法的断层测量系统,并给出了它在反求工程中的应用.

关键词：反求工程、测量、断层图像、CAD

所属期刊栏目：11

分类号：TH741.1;TP399(仪器、仪表)

资助基金：科技部专项基金96-A22-02-01

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：393-397