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10.3969/j.issn.1004-1540.2004.02.004

AAS测量体系线性校正下的不确定度受控分析

引用
介绍了采用原子吸收光谱仪(AAS)对金属硅中铁杂质含量进行测定时,线性校正和不确定度评估的方法.该方法的技术首先进行校正函数的线性假设和残差齐性模式下的单因素方差检验,然后考察测量系统的状态以决定系统是否需要更新.当校正函数通过一段时间的使用后,需要采用控制技术对校正曲线的有效性实施监控.本文技术的应用能展示出分析测量体系的持续能力水平,确保该水平测试下数据质量的有效性及测量系统潜在影响因素的预防,有利于统计受控状态下测量系统的不确定度评估.

AAS、控制方法、不确定度

15

O657.31(分析化学)

国家商检局资助项目k9802

2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

108-112,116

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1004-1540

33-1147/C

15

2004,15(2)

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