高阶模光学小位移测量系统中信号光功率对最小可测位移量的影响
实验搭建了高阶模光学小位移测量系统.利用高阶模作为本底光的平衡零拍系统进行测量,在600kHz~3 MHz频率段,以200 kHz为间隔,分别测量了 13个频率处的小位移,并给出了相应的最小可测位移量.在不同2 MHz信号光功率条件下,研究了压电陶瓷驱动电压、噪声功率谱、信噪比以及最小可测位移量之间的关系,并利用90 μW的信号光获得了 1.76×10-10 m的最小可测位移量.该结果为基于光束横向位移测量系统进一步减小测量范围的下限提供了理论与实验依据.
量子光学、小位移测量、高阶横模、信号光功率、信噪比
50
O436(光学)
国家自然科学基金;国家自然科学基金;国家自然科学基金
2023-05-10(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共7页
185-191