基于吸收光谱技术的制冷剂膜厚测量系统研制
制冷剂液膜蒸发现象广泛地存在于航空航天、制冷空调和消费电子等领域,高精度定量分析液膜厚度对于了解液膜分布情况、揭示液膜传热规律及优化相关工业过程至关重要.将R1233zd作为研究对象,提出一种基于吸收光谱技术的制冷剂液膜厚度测量新方法.首先获取了不同温度(11.8,13.5,15.2,16.5,18.0℃)下R1233zd的吸收光谱,构建液膜厚度反演模型,并研制膜厚测量系统.利用厚度可调(0~800 μm)的标准具对该系统的测量精度进行验证.进一步结合图像法对水平石英玻璃板上的R1233zd液膜蒸发过程进行研究,发现两种方法测得的液膜厚度随时间的变化趋势吻合良好.该系统实现了 R1233zd液膜蒸发过程中膜厚的高精度测量,有望为相关工业过程的设计和优化提供数据支撑.
测量、吸收光谱、膜厚、蒸发
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TK31(热工量测和热工自动控制)
国家自然科学基金;上海市自然科学基金
2022-11-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
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