回音壁微腔激光器电老化试验及寿命分析

摘要：

为了考察深刻蚀结构的回音壁模式半导体微腔激光器的寿命,采用恒电流模式对InGaAsP/InP多量子阱耦合双圆微腔激光器进行了电老化试验,电流应力为100 mA,老化总时长为1400 h.对比了电老化试验前期、中期和后期器件的输出光谱和功率-电压-电流(P-V-I)特性,以器件稳定工作的电老化中期为例分析了器件的性能.分析了输出功率和阈值电流随时间的变化情况,判断出在电老化试验期间器件退化模式始终为渐进模式.以器件输出功率降到初始值的50％作为失效判据标准,在100 mA电流下,器件的寿命约为1200 h.

关键词：激光器、微腔、可靠性、电老化试验、电流应力、寿命

所属期刊栏目：49

分类号：TN248.4(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家重点研发计划;中国科学院战略性先导科技专项

在线出版日期：2022-04-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：1-7