基于相移与调制度比的结构光三维面形垂直测量方法
为了兼顾调制度测量轮廓术的测量速度与测量精度,提出了一种新的基于相移与调制度比的调制度测量轮廓术方法.使用一个由柱面镜和普通投影镜头组成的特殊投影系统,将竖直与水平两组相移正弦光栅依次投射在测量区域,柱面镜使两种光栅条纹的“像面”分离,两“像面”之间构成测量区域.利用相移算法得到两组正弦条纹在测量区域的调制度分布,并建立两种条纹的调制度比与实际物理位置的映射关系.测量时,将待测物体放置于测量区域,并根据物体表面两种条纹的调制度比与物理位置的映射关系,即可重建物体的三维面形.通过对实物的测量实验验证了所提方法的可行性.
测量、三维面形测量、调制度测量轮廓术、垂直测量、高度映射、相移算法
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O438(光学)
国家自然科学基金;国家重大科学仪器设备开发专项
2019-08-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共9页
168-176