中心对称光折变晶体中Kagome型光格子内缺陷孤子的研究
报道了中心对称光折变晶体中Kagome型光格子内缺陷孤子的存在及其稳定性.由于缺陷强度的变化,这些缺陷孤子能存在于不同的带隙内.当缺陷为正时,这些缺陷孤子只存在于半无限带隙内.利用扰动增长率和光波传播法,研究了这些缺陷孤子的稳定性.结果表明,通过扰动增长率和光波传播法得到这些缺陷孤子的稳定性是相同的,低功率正缺陷孤子是稳定的,高功率正缺陷孤子是不稳定的.当缺陷为负时,缺陷孤子存在于半无限带隙和第一带隙内.在半无限带隙内,中功率负缺陷孤子是稳定的,高功率和低功率负缺陷孤子是不稳定的.在第一带隙内,负缺陷孤子都是稳定的.
表面光学、缺陷孤子、光折变晶体、光格子、非线性光学
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O437(光学)
天津市自然科学基金13JCYBJC16400
2017-05-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共7页
221-227