门控光电倍增管在激光诱导击穿光谱信号检测中的应用
激光诱导击穿光谱(LIBS)技术的分析灵敏度会明显受到等离子体中电子轫致辐射的影响.由于电子轫致辐射的弛豫时间一般比原子辐射的弛豫时间短,因而可以采用时间分辨的信号检测技术来提高信号与背景之比.采用带有一种简单的新门控电路的光电倍增管来检测LIBS中的信号并以更高的分析灵敏度分析了铝合金样品中的铜杂质.该门控光电倍增管对背景的抑制比可达15:1.铝合金中铜的检出限达到了1.02×10-6,与不采用门控技术相比有明显改善.这种门控的光电倍增管可以用于降低LIBS技术中背景辐射的影响,同时改善LIBS的分析灵敏度和空间分辨本领.
光谱学、激光诱导击穿光谱、门控光电倍增管、时间分辨、微弱信号检测
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O433.4(光学)
国家重点基础研究发展计划(973计划);国家自然科学基金;国家自然科学基金;中央高校基本科研业务费专项
2015-12-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
282-287