高功率半导体激光器电压饱和特性与器件质量

摘要：

为实现对高功率半导体激光器快速,有效、无损的质量检测和可靠性筛选,对器件进行了电导数和光导数测试及分析.结果表明高功率半导体激光器的结电压饱和特性与其质量和可靠性紧密柏关.结电压饱和特性不好的器件一般都存在某种缺陷,结电压饱和特性的差异超出一定范围的同种类器件一定是质量和可靠性差的器件.因此,阈值处电导数曲线的下沉高度h值可作为器件筛选的一个判据.用模拟测馈的方法,对阵列器件和组成它的单元器件的电压饱和特性的相关性进行了研究,阵列器件的电压饱和特性与组成它的单元器件的一致性(均匀性)紧密相关.均匀性小好的器件的电压饱和特性也不好.

关键词：激光器、可靠性检测、导数技术、高功率半导体激光器

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分类号：TN248.4(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家自然科学基金60471009;吉林省重在工程项目200403001-4;长春市科技局国际合作项目06GH06资助课题

在线出版日期：2008-12-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1346-1349