10.3321/j.issn:0258-7025.2005.12.019
利用分光光度计测量光学晶体的折射率
晶体折射率的准确测定是晶体上薄膜器件设计的基础.介绍了利用分光光度计测量晶体折射率的方法,通过背面影响系数法、背面镀增透膜和将两者结合起来的方法消除晶体反射率测量时背面反射带来的影响,给出了具体的步骤并对测量误差进行了分析.由于晶体的光学各向异性,采用起偏器扫描的方法测量晶体光学性质随方向的变化.通过对LiB3O5晶体的折射率的测量,证实了该方法的可行性并可用于其他光学晶体折射率的测量.
测量、折射率、分光光度计、LiB3O5晶体、偏振方向
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O436.1(光学)
国家科技攻关项目2003AA311040;上海市科委资助项目036105007
2008-08-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
1678-1682