借助光栅测谱中高级次谱判断强激光场作用时的有效功率密度

摘要：

借助在X光波段高次谐波辐射谱测量过程中,根据单色仪光栅分光的作用,产生的23级次(34.56 nm)谐波谱的二级次谱(69.13 nm)的出现与否,判断了实验获得高次谐波谱的截止波长;从而根据高次谐波的理论,判断了强激光场与物质相互作用时,激励产生X光谱的有效功率密度为1.007×1014 W/cm2,此时获得最大光子能量为32.817 eV.它的准确判断和测量是研究实验获得谱线的来源和强度的基础数据.

关键词：激光物理、光栅分光、高级次谱、测试系统

所属期刊栏目：30

分类号：O437.1(光学)

资助基金：国家高技术研究发展计划863计划863-804-7-10

在线出版日期：2008-08-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：255-258