大鼠脑二次损伤凋亡相关基因的表达

摘要：

目的 探讨大鼠脑二次损伤(SBI)c-fos、bcl-2、bcl-xL基因表达和细胞凋亡关系.方法 40只大鼠随机分为正常对照组10只、脑缺血组10只、颅脑损伤组10只和SBI组10只,以免疫组织化学方法,检测脑神经细胞中c-foe、bcl-2、bcl-xL的表达水平;以原位细胞凋亡(TUNEL)法检测神经细胞凋亡水平.结果 颅脑损伤组、SBI组皮层区c-fos基因表达(23.6±9.4)、(37.1±5.5)阳性细胞数/个/H均明显高于脑缺血组(5.6±1.4)阳性细胞数/个/H(t=3.458,t=3.648,均P<0.01);颅脑损伤组、SBI组皮层区bcl-2基因表达(18.2±4.6)、(15.6±3.7)阳性细胞数/个/H低于脑缺血组(23.6±4.3)阳性细胞数/个/H(t=2.345,t=2.447,均P<0.05);脑缺血组、颅脑损伤组和SBI组bcl-xL基因表达变化不大;SBI组皮层区细胞凋亡(36.6±5.3)个细胞/0.1mm2高于颅脑损伤组(21.6±4.4)个细胞/0.1mm2(t=2.378,P<0.05);细胞凋亡水平与bcl-2表达均呈负相关(r=-0.857,P<0.01).结论 脑二次损伤c-fos、bcl-2、bcl-xL基因表达增加并与神经细胞凋亡水平密切相关.

关键词：颅脑损伤、基因、fos、bcl-2、bcl-xL、细胞凋亡

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分类号：R6(外科学)

在线出版日期：2009-04-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：1834-1836