10.3760/cma.j.issn.1008-6706.2004.08.003
磁共振成像诊断脑弥漫性轴索损伤
目的探讨MRI诊断脑弥漫性轴索损伤(DAI)的方法及价值.方法回顾性分析38例临床诊断脑弥漫性轴索损伤患者的MRI资料,对其病灶的分布特点、信号特征及不同序列对病灶的显示能力进行统计分析.结果 38例DAI患者,共发现病灶1 338个,其中双侧大脑半球皮髓交界处病灶469个,脑叶白质460个,基底节区202个,胼胝体89个,小脑70个,脑干48个.DAI病灶在不同序列中的信号特征不同,所显示病灶T1WI为等、低信号,T2WI及FLAIR为高信号,SE-EPI弥散像为稍高信号或高信号,FLASH为显著低信号.病灶在不同序列的显示程度不同,FLASH序列能得到显示的病灶,SE T1WI仅能显示15.3%,FSE T2WI能显示38.9%,FLAIR能显示54.7%,SE-EPI能显示63.6%.DAI合并症的显示各序列有着大致相同的特异性,但敏感性略有差异.结论 MRI对DAI有非常高的诊断价值,不同序列对DAI病灶的显示能力不同,FLASH序列能显示常规序列所不能显示的出血灶,可作为MRI诊断DAI的首选序列.
脑弥漫性轴索损伤、磁共振成像
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R4(临床医学)
广东省东莞市科技局资助项目20030808
2004-09-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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