Y波导集成光学器件高低温储存寿命试验

摘要：

为摸清Y波导在高低温储存环境下的薄弱环节及其寿命,通过开展高低温条件下的储存寿命试验,分阶段测试Y波导的插入损耗、分束比、尾纤偏振串音和半波电压等参数,有失效器件产生时则终止试验.对试验参数分析知,耦合区材料及结构是波导的薄弱环节.试验结果表明Y波导的插入损耗变化量≤0.45 dB;分束比变化量≤3.0％;偏振串音≤-30 dB;半波电压变化量≤1.8％,无失效器件产生.采用阿伦尼斯(Arrhenius)模型对器件寿命进行评估,Y波导集成光学器件在85℃条件下的储存寿命为18 000 h,相当于22℃下的1.6×107h.该研究给出了Y波导长期高温储存的加速寿命和寿命评估,为其在光纤陀螺及其他传感系统中的应用提供了理论参考.

关键词：集成光学、光纤陀螺、加速试验、Arrhenius模型

所属期刊栏目：22

分类号：U666.1(船舶工程)

资助基金：国家重点基础研究发展计划973计划6131860103

在线出版日期：2014-05-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：109-113