利用数字化仪实现α、β平面源表面粒子发射率的绝对测量

摘要：

目的 为验证数字化仪代替传统电子学插件进行放射性核素测量的有效性和准确性.方法 基于大面积流气式多丝正比计数器2πα、2πβ表面粒子发射率测量装置,采用CAEN公司开发的DT5730型数字波形采样器对α平面源241Am和不同能量的β平面源核素14C、36C1和90Sr-90Y进行波形信号采集、幅度分析和数据处理.结果 在电子学阈值、高压等实验条件一致情况下,经死时间、本底修正后得到的α、β表面粒子发射率结果与基于插件定标器得到的测量结果偏差均在0.6％以内,在不确定度范围内相一致.结论 数字化仪可有效替代传统电子学插件实现α、β信号的采集和处理,实现α、β发射率准确测量.

关键词：数字化仪、计量学、正比计数器、平面源、发射率

所属期刊栏目：32

分类号：TB98(计量学)

在线出版日期：2023-04-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1-5