电离辐射所致的DNA双链断裂检测技术的进展

摘要：

@@ 电离辐射通过对生物大分子的直接作用和间接作用导致各种类型的DNA损伤.在DNA的各种损伤中,DNA双链断裂又被公认为是电离辐射致畸、诱变和导致细胞死亡的主要损伤因素.

机标关键词：电离辐射、双链断裂、检测技术、损伤因素、生物大分子、直接作用、细胞死亡、间接作用、各种类型、致畸、诱变

所属期刊栏目：15

分类号：Q345(遗传学分支学科)

在线出版日期：2006-10-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：381-382