S系统联合Patentics在测量领域的检索应用
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1672-6081.2018.z1.016

S系统联合Patentics在测量领域的检索应用

引用
测量领域相关案件存在IPC分类号分布广泛、关键词难以表达的问题,分类号通常对应IPC分类中的G部、B部、E部等,机械部件关键词表达多种多样,难以准确表达.检索中若不对分类号和关键词扩展,则会导致漏检,若对分类号和关键词盲目扩展,则会出现大量噪声,使得对比文件淹没在上千篇检索结果中,给对比文件筛选造成巨大困难.S系统具有丰富的检索方式,但检索结果需要人为逐篇筛选;而Patentics具有相关度排序的功能,本文联合S系统和Patentics,将S系统的检索结果导入Patentics中排序,有效避免了漏检,同时提高了对比文件筛选效能.

Patentics、S系统、检索、相关度排序、效率

15

G306(科学研究理论)

2019-03-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

88-92

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

中国发明与专利

1672-6081

11-5124/T

15

2018,15(z1)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn