箔式应变片三种桥路的性能比较

摘要：

本文利用应变效应,通过CSY系列传感器实验仪完整的测试系统将箔式应变片的应变转换成电阻变化,再根据应变片个数不同借助三种测量电路将电阻变化转换成各电桥灵敏度大小,经过比较进一步验证了全桥电路的灵敏度最高,半桥次之的结论,从而加深学生对所学知识的理解,并且还为利用箔式应变片测量力、加速度等物理参数提供了很好的依据.

关键词：应变效应、测量电路、CSY、灵敏度

分类号：TP391;TP212;TN925.93

在线出版日期：2009-11-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：86,88