Enhancing SAT-Based Test Pattern Generation

机标关键词：test pattern generation、combinational circuits、Boolean satisfiability、binary decision graphs、test generation、search space

所属期刊栏目：3

分类号：TN91

资助基金：Joint Research Fund for Overseas Chinese Young Scholars50128503;国家自然科学基金50390060

在线出版日期：2005-07-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：134-139