压接型IGBT功率模块加速老化试验方法

摘要：

针对目前对压接型绝缘栅双极型晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)可靠性评估测试工作的不足,从器件应用角度提出了可用于柔直功率模块的老化循环试验方法.结合不同试验工况下的理想试验波形及热阻模型得到了适用于不同试验的结温波动公式.通过实验验测得到了压接型IGBT在老化试验下的结温波动波形,对所提方法进行了验证.

关键词：压接型IGBT、结温、循环老化、热阻抗

所属期刊栏目：55

分类号：U414;TN322.8;TQ317.6

资助基金：中国南方电网有限责任公司科技项目CGYKJXM20180173

在线出版日期：2022-10-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：87-91,177