交直流老化后ZnO压敏电阻宏观电容量随时间变化的特性分析

摘要：

针对ZnO压敏电阻在交、直流老化作用后,其宏观电容量随时间变化特性的问题,基于砖块模型(block model)对影响ZnO压敏电阻宏观电容量的相关参数进行了理论分析,通过对ZnO压敏电阻样品分别施加不同时长的交流以及直流老化试验时,发现ZnO压敏电阻的宏观电容量在接受交、直流老化后随着时间的延长呈现先降低后增长的趋势;当交、直流老化时间较短时,宏观电容量相较初始值存在小幅降低,而当交、直流老化时间较长时,宏观电容量相较初始值存在大幅的增长,得出宏观电容量随时间的变化是由界面态俘获电子的释放过程以及晶界层热破坏过程共同作用所导致的结论,这对研究ZnO压敏电阻的老化特性具有一定的参考价值.

关键词：氧化锌压敏电阻、肖特基势垒、交直流老化、宏观电容量、砖块模型

所属期刊栏目：49

分类号：TM241(电工材料)

资助基金：国家自然科学基金资助项目41175003;江苏高校优势学科建设工程资助项目 This work is supported by National Natural Science Foundation of China41175003;the Priority Academic Program Development of Jiangsu Higher Education Institutions

在线出版日期：2016-12-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：14-19