10.13334/j.0258-8013.pcsee.202363
基于微逾渗理论的电树枝引发和生长特性
为研究绝缘介质内电树枝的引发与生长机理,该文提出微逾渗理论,进而建立电树枝的微逾渗模型,并利用环氧树脂CY1311的数值模拟与实测结果进行了有效性验证.数值模拟结果显示,微逾渗模型针对环氧树脂CY1311在7、10和15kV下的电树枝仿真图像与实验结果非常贴近,且7、10kV时数值模拟结果的分形维数与实验结果间的最大误差仅为5.8%.结果表明,在工频电压作用下,由针尖注入的电子增加了微区域的键逾渗概率,以及热电子对聚合物分子链的撞击,二者共同引发电树枝,并形成绝缘失效区;而邻近微区域中高能电子的冲击可进一步确定电树枝的生长方向.进一步地,外加电压与温度的升高均会增大微逾渗概率.所得结果有助于从微观层面理解电树枝的引发及生长过程,为探究电树枝的抑制措施提供参考.
电树枝、微逾渗理论、键逾渗、逾渗阈值、绝缘失效区
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TM85(高电压技术)
山东省重点研发计划2019GGX102049
2021-07-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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