基于错位散斑干涉的复合绝缘子缺陷检测方法

摘要：

提出一种基于错位散斑干涉的复合绝缘子内部缺陷检测方法,用于剔除生产中的不合格绝缘子以及诊断运行中复合绝缘子的隐蔽缺陷.该方法通过测量内部缺陷引起的表面异常形变来诊断复合绝缘子的缺陷及其严重程度,相比其他无损检测技术具有速度快、精度高、非接触、全场成像等特点.检测在芯棒、护套以及交界面区域设置了人工缺陷的绝缘子样品,通过得到的干涉条纹图和相位分布图快速、直观地检测到了缺陷信息.通过人工缺陷检测试验证实了错位散斑干涉方法应用于复合绝缘子内部缺陷检测的可行性.

关键词：复合绝缘子、错位散斑干涉、内部缺陷、无损检测、表面形变

所属期刊栏目：39

分类号：TM216(电工材料)

资助基金：国家重点研发计划;深圳市基础研究项目

在线出版日期：2019-08-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：4599-4605