一种有气隙磁元件高频绕组损耗的测量评估方法

摘要：

有气隙磁元件的气隙参数设计对绕组交流损耗影响很大,但目前还缺少测量其绕组损耗的有效方法.对有气隙磁元件绕组损耗的产生机理及相关电磁理论进行分析的基础上,提出一种基于气隙等效绕组磁动势替代气隙磁压降的绕组损耗测量方法,通过测试对比验证该方法能有效地评估绕组交流损耗的各种影响因素.进一步采用电磁场三维有限元仿真验证测量结果的准确性,为有气隙磁元件的气隙设计以及绕组损耗分析提供一种有效的测量或评估对比方法,也可以用于从其他方法测量得到的磁元件总损耗中扣除绕组损耗,从而获得磁芯损耗.

关键词：磁元件、绕组损耗、气隙、高频

所属期刊栏目：35

分类号：TM552(电器)

资助基金：国家自然科学基金项目51277032;福建省自然科学基金项目2012D092.Project Supported by National Natural Science Foundation of China51277032;Project Supported by Natural Science Foundation of Fujian Province2012D092

在线出版日期：2015-05-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：1749-1755