人工污秽下盐/灰密对普通悬式绝缘子串交流闪络特性的影响

摘要：

污闪是电力系统的严重自然灾害之一,国内外对盐密(ESDD)的影响进行了大量的研究,但对灰密(NSDD)影响的研究较少.文中以7片串普通悬式绝缘子XP-160为试品,在人工雾室中进行了大量的人工污秽试验,分析了ESDD和NSDD的变化对人工污秽绝缘子交流闪络电压的影响.试验结果表明:在人工污秽试验中,ESDD和NSDD均对绝缘子交流闪络电压有影响,与ESDD对人工污秽绝缘子串绝缘子交流闪络电压的影响一致,人工污秽绝缘子串交流闪络电压与NSDD也呈幂函数关系.在对交流闪络电压的影响上,ESDD和NSDD是相互独立的.因此,污区的划分不仅应考虑ESDD,同时也应考虑NSDD.对于7片串XP-160,文中还给出人工污秽试验条件下绝缘子串的交流污闪电压表达式.

关键词：绝缘子串、等值附盐密度、灰密、交流闪络电压、人工雾室、污秽

所属期刊栏目：26

分类号：TM835(高电压技术)

资助基金：国家自然科学基金90210026

在线出版日期：2006-08-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：24-28