表观弥散系数在2～12岁常规颅脑MRI正常的智力障碍/全面发育迟缓患儿中的应用

摘要：

目的 探讨快速自旋回波弥散加权成像(TSE-DWI)表观弥散系数(ADC)在2～12岁常规颅脑MRI正常的智力障碍/全面发育迟缓(ID/GDD)患儿中的应用价值.方法 选择符合ID/GDD诊断标准且常规颅脑MRI正常的578例患儿及同年龄段375例正常儿童志愿者为研究对象,并收集其影像学和临床资料.所有研究对象均行颅脑TSE-DWI序列及常规序列扫描.分析正常对照组儿童各脑区不同年龄亚组、各年龄亚组不同ID/GDD程度患儿各脑区ADC值差异,社会适应行为评分(ABAS-Ⅱ)对ID/GDD患儿各脑区ADC值的影响.结果 正常对照组额颞叶白质、胼胝体、内囊、半卵圆中心、小脑齿状核、视放射、丘脑、豆状核及尾状核ADC值随年龄升高而降低(P＜0.05).各年龄组ID/GDD患儿深、浅部白质,深部灰质核团及浅部灰质4岁～组ADC值随ID/GDD程度升高而升高(P＜0.05).深、浅部白质及深部灰质核团,各ID/GDD组ADC值随年龄的升高而降低(P＜0.05).ID/GDD患儿ADC值随ABAS-Ⅱ评分升高而降低(P＜0.05).结论 ADC能反映常规颅脑MRI正常ID/GDD患儿各脑区细微结构变化,对社会适应性方面也有一定的提示作用,可为ID/GDD患儿定量诊断提供客观依据.

关键词：智力障碍、全面发育迟缓、磁共振成像、表观弥散系数、儿童

所属期刊栏目：21

在线出版日期：2019-07-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：541-546