10.3969/j.issn.1007-9289.2013.02.010
磁控溅射法制备TiN/TiO2周期薄膜
采用直流反应磁控溅射法在Si(111)衬底上制备了不同周期数的TiN/TiO2周期薄膜.采用X射线衍射分析仪分析了薄膜的物相结构、原子力显微镜表征了薄膜的表面微观形貌,采用光催化降解甲基橙溶液来评价薄膜光催化性能.结果表明:所制备的TiN/TiO2周期薄膜结晶良好,薄膜由TiO2和TiN两种物相组成,TiO2均属于锐钛矿型.薄膜表面均匀致密,随着周期数的增加,薄膜表面粗糙度增加,1周期薄膜表面粗糙度(Ra)为1.652 nm,5周期则为4.339 nm,1周期薄膜均方根粗糙度(Rms)为2.138nm,5周期达5.738 nm.薄膜具有显著的光催化性能,随着周期数的增加,TiN/TiO2薄膜的光催化性能逐渐增强,5周期薄膜对甲基橙溶液的降解率达到74%.结晶良好、表面均匀致密的具有光催化性能的TiN/TiO2周期薄膜的制备,为高质量TiN/TiO2周期薄膜的制备提供了参考.
TiN/TiO2、磁控溅射、周期薄膜、光催化
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TG174.444(金属学与热处理)
国家自然科学基金50730007
2013-05-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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