膜环境高温对下丘脑神经元膜上钾通道电压依赖性的影响

摘要：

目的:观察膜环境高温对下丘脑神经元延迟整流性K+通道(IK)电压依赖性的影响.方法:采用细胞贴附式的膜片钳技术.结果:高温可影响通道的电压依赖性,使电压依赖曲线发生正向移位,过高温度则使电压依赖性减弱甚或丧失.结论:IK电压依赖性的变化可能参与机体的发热和中暑发病过程.

关键词：温度、钾通道、下丘脑、神经元

所属期刊栏目：16

分类号：R594.1(全身性疾病)

资助基金：中国科学院资助项目39970810;军队基金98M071

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：440-442