10.19557/j.cnki.1001-9944.2022.11.001
某型DSP芯片指标测试设计与实现
该文针对一款兼容SMJ320C6701-SP的DSP芯片进行各项指标测试系统的设计.使用LabVIEW进行上位机的测试平台程序编写,实现了对DSP芯片指标的单次测试和连续测试,同时实现了实时显示数据曲线、自动存储数据等功能.采用CCStudio v3.3软件进行算法的编程,实现运算性能、读写时序特性等指标的测试.实际应用结果表明,该文设计的测试系统完全可以实现该类型DSP芯片性能指标的测试.测试数据中监测芯片温升测试误差小于1℃,且该测试系统具有很好的人机交互界面,简化了繁琐的测试操作和测试过程,提高了芯片的测试质量与测试效率.
芯片测试、LabVIEW、运算性能、DSP芯片
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TN47(微电子学、集成电路(IC))
2023-02-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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