一种超低相位噪声频率合成源方案设计
频率合成源是射频发生和频谱分析中最重要的组成之一,评价合成源性能指标的是输出信号的相位噪声、杂散、频率分辨率和频率切换时间.本文通过分析传统锁相环原理,提出一种通用的超低相位噪声合成源设计方案(带宽100 MHz 以内).在锁相环基础上,通过引入直接数字合成(Direct digital synthesizer, DDS) 混频鉴相技术,使得到的射频信号理论值达到0.1 mHz的频率分辨率,同时将带内相位噪声指标优化17 dB以上.新方案同时兼顾了杂散和频率切换时间指标,保障合成源的输出信号稳定可靠,使其在自动测试领域拥有广阔的应用前景.
频率合成源、锁相环、极高分辨率、超低相位噪声
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TN7;TN4
电子测试技术重点实验室基金项目9140C120201130C12050资助Supported by Project of Science and Technology on Electronic Test &Measurement Laboratory9140C120201130C12050
2018-01-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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2225-2231
