电针对脑缺血再灌注大鼠外周血内源性内皮祖细胞的作用

摘要：

目的:初步探讨电针对脑缺血后内源性内皮祖细胞(EPCs)及其相关因子的影响.方法:72只SD大鼠随机分为正常组、假手术组、模型组、针刺组,各组分24、48、72 h 3个时间点,每个时间点6只.大脑中动脉闭塞法制造脑缺血再灌注模型.电针刺激大鼠单侧"足三里""曲池",针刺30 min,每日1次.使用流式细胞术检测EPCs的数量,ELISA法检测血清中内皮生长因子(VEGF)含量,分光光度法检测总一氧化氮合酶(TNOS)、诱导型一氧化氮合酶(iNOS)活力.结果:模型组脑缺血再灌注后24 h外周血EPCs数量和血清TNOS、iNOS活力都明显升高(P＜0.01,P＜0.05);48 h时,针刺组EPCs数量升高,与其它各组相比差异有统计学意义(P＜0.05,P＜0.01);72 h时,针刺组EPCs数量较模型组降低(P＜0.01).针刺组在各时间点血清中VEGF含量都高于其它各组(P＜0.01,P＜0.05).结论:脑缺血再灌注损伤后外周血EPCs数量和血清iNOS活力增加.电针能够影响脑缺再灌注损伤大鼠内源性EPCs,该作用可能与VEGF表达上调有关.

关键词：脑缺血再灌注、电针、内皮祖细胞、血管内皮生长因子、一氧化氮合酶

所属期刊栏目：34

分类号：R245.13(中医临床学)

在线出版日期：2010-01-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：114-119