浅谈半导体测试厂的自动化

摘要：

利用半导体测试厂的测试流程、测试设备的自动化来提升测试设备的产能利用率,降低机台初始化与架设时间及故障修护时间并减少重测;通过生产线的自动化来减少人为错误从而达到半导体测试厂自动化整合的目的.

关键词：成品测试、手动测试、芯片测试、自动测试设备

分类号：TN304.07(半导体技术)

在线出版日期：2007-08-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：116-117