130 nm SOI D触发器链空间静电放电效应和单粒子效应对比试验研究

摘要：

空间静电放电效应(SESD)和单粒子效应(SEE)是卫星设备异常的两个重要原因,但难以精确判断航天应用中产生的故障是由何种效应所导致.以130 nm SOI工艺D触发器(D flip-flop)链为试验对象,利用静电放电发生器和脉冲激光试验装置,通过改变辐射源能量、测试模式、拓扑结构以及抗辐射加固结构等试验变量,试验研究SESD和SEE引起软错误的异同规律特征,其试验结果可为故障甄别及防护设计提供支撑.

关键词：D触发器;单粒子效应;空间静电放电效应;SOI

所属期刊栏目：55

分类号：V416.5;TN386.1(基础理论及试验)

资助基金：Supported by National Natural Science Foundation of China ;Foundation of Key Laboratory of Chinese Academy of Sciences

在线出版日期：2022-01-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：2191-2200